执业医师实践技能第一站口腔检查复习汇总(10)

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 覆盖为上前牙切端至下前牙唇面的水平距离。其距离在3mm以内者为正常覆盖，超过者为深覆盖。上前牙切端至下前牙唇面的水平距离在3～5mm之间者为Ⅰ°深覆盖；水平距离在5～7mm之间者为Ⅱ°深覆盖；水平距离大于7mm者为Ⅲ°深覆盖。除正常覆盖和深覆盖外，上、下颌前牙切端相对者为对刃关系（对刃（牙合））。下前牙切端盖过上前牙切端者为反（牙合）关系。
3.中线关系　牙列中线是指通过左右中切牙近中接触点的垂线。正常者，上、下颌牙列中线应重合一致，而且应与面部中线一致。对于牙列中线偏移者，应记录上、下颌中线之间及与面部中线之间的左右偏移程度。

 

一般检查
特殊检查是牙周探针
 解析：牙周探诊检查
 （一）器械选择
 牙周探诊使用的器械为牙周探针，其顶端为钝头，顶端直径约0.5mm，探针上有刻度。根面牙石的探查和根分叉病变的探查使用普通探针。
 （二）牙周探诊检查的技术
1.用改良握笔法握持探针。
2.探诊时要有支点，可以是口内支点，也可以是口外支点。
3.探入时探针应与牙体长轴平行，探针顶端紧贴牙面，沿根面深入牙周袋或龈沟，注意探入时若遇到牙石要避开牙石，直达袋底。
4.探入力量要轻，约为20～25g。
5.以提插方式移动探针，如“走步”样围绕每个牙的每个牙面进行探查，以发现袋最深的部位及袋的形态。
6.在探查邻面时，要紧靠接触区处探入，探针可稍倾斜以便能探入接触点下方的龈谷处。
7.对多个牙或全口牙探诊时，要按一定顺序进行。每个牙探查要包括6个位点：颊侧近中、中央、远中位点及舌（腭）侧近中、中央、远中位点。
8.测量记录每个位点的探诊深度（probing　depth，PD），即袋底至龈缘的距离，以mm为单位记录。
 （三）探诊检查的内容
 用上述方法可检查：牙周袋探诊深度、附着水平、探诊后出血情况。
 除此之外，还应使用普通探针探查根面牙石情况，并用普通探针（弯探针）探查后牙有无根分叉病变。

 

一般检查
冷热诊
解析：牙髓活力检查
 测验方法
1.告知受试者牙髓活力检查的目的和受试牙可能出现的反应，如凉、热、钻入感、麻刺感、疼痛等，并教授有反应时的示意方式。
2.用干棉纱卷放置于测试牙的唇（颊）和（或）舌侧，隔离唾液。
3.先测健康对照牙，再测可疑牙。对照牙选择的顺序：同颌同名牙为首选，如果该牙丧失或有病变，可选对颌对侧同名牙或对侧同名牙的邻牙中与待测牙萌出时间接近、体积相当的牙齿。
4.测试牙面应选择没有牙体病损或充填体的完整牙面，一般选牙的唇、颊面的中1/3，亦可在舌面测试，因为这些牙面不受磨耗等的影响。
5.冷测　从冰箱中取出小冰棒放于手中稍加捂化，慢慢挤出冰棒头贴放在测试牙面上，观察牙齿反应，也可用小棉球蘸化学挥发剂放在牙面上测试。
6.热测　将牙胶棒一端置于酒精灯火焰上加热，使之变软（约65～70℃），但不要冒烟燃烧，立即贴放在湿润的测试牙面，观察牙齿反应。
7.电测　在被测牙面上放少许导电剂或湿润的小纸片，将电测仪工作端放于牙面导电处，请患者一手扶持工作端的金属杆部或将挂钩挂于口角以构成电流回路。随着电流逐渐增大，对测试牙造成刺激，患者示意测试牙有感觉即应将工作端撤离牙面，记录表盘显示的读数。每牙测2～3次，取平均数值作结果。
 测验结果的描述
1.牙髓温度测验的结果　经与对照牙比较，可分为正常、敏感、迟钝和无反应四级反应，应客观记录在病历中。
 （1）正常：测试牙出现短暂的轻度感觉反应（如凉、热刺激传入等），该反应随刺激源的撤除而立即消失，反应程度和时间与对照牙相同。
 （2）敏感：测试牙的反应速度快，疼痛程度强，持续时间长；比敏感反应稍轻者可表现为“一过性敏感”，指测试牙对温度刺激（尤其是冷刺激）反应迅速，有疼痛感觉，持续时间极短暂，一般为可复性牙髓炎的反应；比敏感反应程度更重者表现为“激发痛”，指测试时诱发剧烈疼痛，且持续时间较长，一般为急性牙髓炎；急性化脓性牙髓炎的患牙，热刺激有时可引起剧痛，冷刺激反而使疼痛缓解，又称热痛冷缓解。
 （3）迟钝：测试牙在温度刺激去除片刻后才出现反应，或施加强烈刺激时才有微弱的感觉；有时在测试片刻后感觉一阵较为剧烈的疼痛，称为迟缓反应性痛。多发生在慢性牙髓炎或部分牙髓已坏死的患牙。
 （4）无反应：反复测试，加大刺激强度测试牙均无反应。一般为失去牙髓活力的死髓牙或经过牙髓治疗的无髓牙。
2.牙髓活力电测验的结果　　用于反映测试牙有无牙髓活力，但不能指示牙髓的不同病理状态。在相同的电流输出档位下，测试牙与对照牙的电测值之差大于10时，表示测试牙的牙髓活力与正常有差异。如电测值达到最大时测试牙仍无反应，表示牙髓已无活力。因此，临床上对电测反应的描述仅为正常和无反应两个指标。

 

一般检查
下颌下腺检查
 解析：下颌下腺检查
 下颌下腺检查是口腔颌面外科要求掌握的一项基本检查方法，在临床应用的几率也很高，因此要求口腔科医师不但知道，还应该能够准确操作。
 （一）体位
 检查时患者取坐位，检查者应站在其右方（前或后），患者头稍低，略偏向检查侧，使皮肤、肌肉松弛，便于触诊。
 （二）检查内容及方法
 视：平视时及仰头位正面观双侧下颌下区是否对称；开口位双侧口底是否对称，口底下颌下腺导管开口处有无异常分泌物或黏膜红肿、溃疡等。
 触：检查者手指紧贴下颌下区皮肤，首先触诊下颌下腺的大小、质地、活动度及有无异常包块和触压痛。进一步对下颌下区进行双合诊。复查以上口外触诊内容，同时由后向前检查口内下颌下腺导管的质地，有无结石，口外挤压腺体后观察口内导管口分泌情况。注意口内检查时应戴手套。

 

一般检查cpi检查
 解析：CPI检查即在指数牙上检查牙龈出血、牙石和牙周袋深度三项内容。CPI检查以探诊为主，结合视诊。共检查6个区段，检查顺序应从右上后牙区段至上前牙区段、左上后牙区段、左下后牙区段、下前牙区段、右下后牙区段。检查时以执笔式握持CPI探针，以无名指做支点，支于受检牙附近的硬组织之上。将探针轻缓地插入龈沟或牙周袋内，探针与牙长轴平行，紧贴牙根。沿牙齿颊（唇）、舌（腭）面龈沟或牙周袋从远中向近中移动，作上下短距离的提插式移动，以感觉龈下牙石。同时查看牙龈出血情况，并根据探针上的刻度观察牙周袋深度。CPI探针使用时所用的力不超过20g，过分用力会引起患者疼痛，有时还会刺破牙龈。

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